冷熱循環(huán)試驗篩選條件
冷熱循環(huán)試驗篩選條件
篩選試驗是一種對產(chǎn)品進行全數(shù)檢驗的非破壞性試驗。其目的是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔早期失效的產(chǎn)品，以提高產(chǎn)品的使用可靠性。產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實際使用時產(chǎn)品的可靠性水平。
可靠性篩選試驗的特點是：
A. 這種試驗不是抽樣的，而是試驗；
B. 該試驗可以提高合格品的總的可靠性水平，但不能提高產(chǎn)品的固有可靠性，即不能提高每個產(chǎn)品的壽命；
C. 不能簡單地以篩選淘汰率的高低來評價篩選效果。淘汰率高，有可能是產(chǎn)品本身的設(shè)計、元件、工藝等方面存在嚴(yán)重缺陷，但也有可能是篩選應(yīng)力強度太高。淘汰率低，有可能產(chǎn)品缺陷少，但也可能是篩選應(yīng)力的強度和試驗時間不足造成的。
篩選試驗可以在元件、器件、連接器等產(chǎn)品或整機系統(tǒng)中進行，根據(jù)要求不同可以有不同的應(yīng)力篩選試驗，環(huán)境應(yīng)力篩選的主要試驗為：
電應(yīng)力篩選： 加電工作試驗、加電加負(fù)荷試驗
溫度應(yīng)力篩選： 高溫、低溫、高溫工作或低溫工作
環(huán)境應(yīng)力篩選： 溫度變化
機械應(yīng)力篩選： 沖擊或振動
其他篩選： 參數(shù)篩選、一致性篩選
篩選試驗也可分為普通篩選
參照標(biāo)準(zhǔn)：
MIL-STD-2164-85
GJB1032－90 “電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法”
GJB451-90
MIL-STD-721C-81
MIL-STD-785B-80
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